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18. GMA/ITG-Fachtagung Sensoren und Messsysteme 2016 6.3.1 - Dynamische Messunsicherheit – Software und Leitfäden als Brücke zwischen Theorie und Praxis S. Eichstädt, C. Elster - Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Braunschweig und Berlin (Deutschland), I. Smith, T. Esward - National Physical Laboratory, Teddington (Grossbritannien)
18. GMA/ITG-Fachtagung Sensoren und Messsysteme 2016 6.3.2 - Vergleich zweier Verfahren der Unsicherheitsabschätzung bei linearisierten inversen Problemen mittels Bayes’scher Inferenz und Pseudoinverse am Beispiel akustischer Transmissionsmessung N. Feldmann, F. Bause, B. Henning - Universität Paderborn, Paderborn (Deutschland)
18. GMA/ITG-Fachtagung Sensoren und Messsysteme 2016 6.3.3 - Messunsicherheit durch Simulation: Stand der Technik und neue Entwicklungen für die Koordinatenmesstechnik in der industriellen Produktion T. Kistner, A. Gabbia, D. Imkamp - Carl Zeiss Industrielle Messtechnik GmbH - ZEISS Gruppe, Oberkochen (Deutschland)
18. GMA/ITG-Fachtagung Sensoren und Messsysteme 2016 6.3.4 - Software in Measuring Instruments: Ways of Constructing Secure Systems D. Peters, F. Thiel - Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Berlin (Germany)
18. GMA/ITG-Fachtagung Sensoren und Messsysteme 2016 6.3.5 - Neue ISO 9001 Revision – und ihre Bedeutung für die Messtechnik in der Produktion D. Imkamp, T. Kistner - Carl Zeiss Industrielle Messtechnik GmbH - ZEISS Gruppe, Oberkochen (Deutschland)