| 16. GMA/ITG-Fachtagung Sensoren und Messsysteme 2012 |
4.3.1 Herausforderungen und Lösungsansätze für die fertigungsnahe Qualitätskontrolle mittels optischer 3D-Messtechnik |
W. Lyda, D. Fleische, M. Gronle, F. Mauch, K. Körner, W. Osten - Universität Stuttgart |
| 16. GMA/ITG-Fachtagung Sensoren und Messsysteme 2012 |
4.3.2 Digital-holographischer Mehrwellenlängensensor HoloTop zur 100-Prozent-Kontrolle von Oberflächen |
D. Carl, M. Fratz, D. Giel, H. Höfler - Fraunhofer-Institut - IPM -, Freiburg |
| 16. GMA/ITG-Fachtagung Sensoren und Messsysteme 2012 |
4.3.3 Nutzung von Farbkameras für die 3D-Oberflächenmessung mittels Weißlichtinterferometrie |
T. Machleidt, D. Kollhoff - Gesellschaft für Bildund Signalverarbeitung mbH, Ilmenau, O. Dathe - ProMicron, Kirchheim/Neckar, D. Kapusi, R. Nestler - Zentrum für Bild- und . Signalverarbeitung e.V. (ZBS), Ilmenau, K. Franke - Technische Universität Ilmenau |
| 16. GMA/ITG-Fachtagung Sensoren und Messsysteme 2012 |
4.3.4 Nanomess- und Nanopositioniergeräte für die nanometergenaue Positionierung und Messung von Oberflächen und Strukturen |
E. Manske, G. Jäger, R. Füßl, F. Balzer, H. Baitinger - Technische Universität Ilmenau |