| iCCC2026 - iCampus Cottbus Conference |
P42 - Formation and role of the interface region in metal oxide layers |
C. Morales, R. Tschammer, D. Guttmann, K. Henkel, J. I. Flege - BTU Cottbus-Senftenberg, Cottbus, C. Alvarado, C. Wenger - IHP Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik, Frankfurt (Oder) |
| iCCC2026 - iCampus Cottbus Conference |
P43 - Cleaning effect on surface activated aluminum to aluminum wafer bonding |
S. Schulze, T. Voß, P. Krüger, R. Lukose, P. Kulse, M. Wietstruck - IHP Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik, Frankfurt (Oder) |
| iCCC2026 - iCampus Cottbus Conference |
P44 - In-situ-Ätzkontrolle für vertikale GaN-basierte Leistungsbauelemente... |
R. -S. Unger, F. Brunner, E. Brusaterra, O. Krüger - FBH Ferdinand-Braun-Institut, Berlin, K. Haberland - LayTec AG, Berlin, S. Peters - Sentech Instruments GmbH, Berlin |
| iCCC2026 - iCampus Cottbus Conference |
P45 - Calculated electromigration wind force in molybdenum disilicide |
J. Baldauf - CiS Forschungsinstitut für Mikrosensorik GmbH, Erfurt |
| iCCC2026 - iCampus Cottbus Conference |
P46 - Quanteninterferenzmodule für die optische Kohärenztomographie... |
G. Blume, D. Feise, A. Sahm, N. Werner, J. Zender, S. Ramelow, K. Paschke - FBH Ferdinand-Braun-Institut, Berlin |
