P1.18 Objektrekonstruktion in der Mikrowellen-Defektoskopie
- Event
- 20. GMA/ITG-Fachtagung Sensoren und Messsysteme 2019
2019-06-25 - 2019-06-26
Nürnberg, Germany - Chapter
- P1: Sensoren
- Author(s)
- T. Gagelmann, M. Nesterov, S. Wöckel - Institut für Automation und Kommunikation, Magdeburg (Deutschland), C. Li, S. Hantscher, J. Auge - Hochschule Magdeburg-Stendal (Deutschland)
- Pages
- 627 - 633
- DOI
- 10.5162/sensoren2019/P1.18
- ISBN
- 978-3-9819376-0-2
- Price
- free
Abstract
Dieser Beitrag stellt die Ergebnisse eines geförderten Projekts vor, dessen Ziel es war, die erreichbare Auflösung bei der Mikrowellen-Defektoskopie mit niedrigen Prüffrequenzen zu verbessern. Bei niedrigen Prüffrequenzen, wie die im Projekt verwendeten 24 GHz, wird eine größere Eindringtiefe der Mikrowellen ins Material erreicht. Es treten aber auch vermehrt Beugungseffekte auf, die die erreichbare Ortsauflösung verschlechtern und die Klassifizierung von Defekten erschweren. Der im Artikel vorgestellte Ansatz verwendet eine der Messung nachgelagerte Analysetechnik, bei der die Messdaten mit einer zuvor ermittelten Transferfunktion entfaltet werden, um so die Beugungseffekte zu unterdrücken. Es wird gezeigt, dass mit dieser Technik für bestimmte Anwendungsfälle die Beugungsgrenze bei der Abbildung von kleinen, eng bei einander liegenden Defekten überwunden werden kann. Außerdem werden Defektkanten schärfer dargestellt, was eine genauere Klassifizierung der Defekte ermöglicht.